在環(huán)境輻射的測量中，對室內(nèi)、外場地及物體的表面污染進(jìn)行直接或間接測量，對于及時發(fā)現(xiàn)是否有污染以便采取決策行動是十分重要的。表面污染測量的基本要求是及時發(fā)現(xiàn)是否有污染，確定污染點(diǎn)位和范圍，并給出污染區(qū)域內(nèi)污染核素的量值。常用的表面污染監(jiān) 測儀器是便攜式的和車載式的，更的表面污染監(jiān)測管理系統(tǒng)也已經(jīng)開發(fā)，用的是位置靈敏探測器，它不僅可以給出污染點(diǎn)位，同時還可在顯示屏幕上三維顯示污染圖像和量值。表面污染監(jiān)測的對象主要是發(fā)射α、β或γ的核素，測量方式有α污染測量，β污染測量，α /β污染測量，α/γ污染測量。

1. 確定表面污染的方法

表面污染可以用直接測量、掃描測量和間接測量確定。 直接測量是用監(jiān)測儀器進(jìn)行，可以測量固定污染，也可測量松散污染；測量時，以適當(dāng)距離在待測對象的上方放置探測器，按預(yù)定時間間隔測量并記錄讀數(shù)。 掃描測量是用探測器在可能受到污染的表面上方進(jìn)行移動測量，以確定受污染的區(qū)域或點(diǎn)位，在發(fā)現(xiàn)異常點(diǎn)位時再進(jìn)行定位測量。 間接測量是用擦拭方法確定松散污染的水平。 對一些不能活動的固體或者貯存有液體的表面，或者有高本底影響，或者測量儀器不能靠近表面，直接測量是困難的，甚是不可能的。此時只能采用間接測量方法。

1.1 表面污染的直接測量

用于直接測量的表面污染測量儀要能夠探測低于規(guī)程限值水平的污染。測量時，探測器要盡可能靠近表面移動，一旦探測到污染，探測器應(yīng)在該區(qū)域定位測量足夠時間，以確認(rèn)污染水平。測量程序如下：

（1）在一個有代表性的檢測區(qū)域測量本底計(jì)數(shù)率；

（2）定期檢驗(yàn)本底計(jì)數(shù)率；

（3）使用適當(dāng)?shù)臋z驗(yàn)源證明儀器工作正常（每天檢驗(yàn)）。 偏離正常值25%儀器要重新刻度；

（4）探測器和表面之間的距離要保持盡可能??；

（5）在適當(dāng)位置探測器少停留3倍儀器的響應(yīng)時間；

（6）在預(yù)期的環(huán)境條件范圍內(nèi)要知道被測核素的儀器效率；

（7）在表面不是很平整的情況下，要評估檢測對象表面形狀對儀器效率的影響；

（8）對被檢測對象表面可以看得見的污物 或氧化物在不能去除的情況下，要考慮對污染源效率的影響。

1.2 表面污染的間接測量

對于間接測量的擦拭樣品，應(yīng)該用很好屏蔽的固定測量裝置進(jìn)行測量。該裝置應(yīng)能測量低于規(guī)程限值的面活度。大多數(shù)設(shè)備能夠探測活度低于0. 4 Bq的α 污染，或低于4 Bq的β污染。對于覆蓋100 cm2的擦拭樣品（隱含去除因子F=O.1），測量非固定α 污染的面活度濃度可小于0.04 Bq •cm 2 ，對自發(fā)射體小于0. 4 Bq •cm 2是可能的。

2. 表面污染測量儀的刻度

為了測量總的表面活度，現(xiàn)場監(jiān)測儀器必須經(jīng)過適當(dāng)刻度。 刻度源應(yīng)選擇其發(fā)射的 α或β輻射與現(xiàn)場污染物預(yù)期的輻射能量相似。 代表性的刻度源要用現(xiàn)場被評估的放射性材料制備。 例如，鈾系和牡系衰變圖很復(fù)雜，發(fā)射 α，β和γ，儀器對每個單核素的刻度必需仔細(xì)評估，以確保探測器對這些衰變系的響應(yīng)。

儀器的MDC取決于輻射的類型和能量，對其選擇的核素要代表現(xiàn)場通常碰到的核素類型與能量范圍。 這些核素對β是14 C，63 Ni，90 Sr，Y ，99 Tc 和204Tl，對 α 是230 Th 和239Pu。 一般講，源有三種幾何形狀：“紐扣源” （類似點(diǎn)源，大約5 cm2），盤源，覆蓋標(biāo)準(zhǔn)面積大約 15 cm2，或者分布源，典型面積范圍從126到150 cm2 。

3. 表面污染測量的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換

在表面污染測量中，在計(jì)算單位面積的活度濃度時，測量面積應(yīng)用探測器的實(shí)際面積，而不是扣除保護(hù)屏幕面積后的有效面積。 要把以計(jì)數(shù)率為單位的儀器讀數(shù)轉(zhuǎn)換為表面活度濃度。

4. 表面污染測量的探測靈敏度

測量系統(tǒng)的探測靈敏度是指用某些已知或估計(jì)的置信度測量或探測到的放射性物質(zhì)的 輻射水平或數(shù)量，它由使用的儀器技術(shù)和測量程序確定。 影響輻射探測器探測能力的主要因素有本底計(jì)率、探測器的探測效率和測量時間。